鍍膜的環(huán)境試驗(yàn)

一般情況下，薄膜制備工藝決定了薄膜都具有柱狀的微結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)使薄膜內(nèi)部存在一定空隙，并造成薄膜器件光學(xué)特性和機(jī)械特性的不穩(wěn)定，因此對(duì)某些在特殊環(huán)境下使用的薄膜必須進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。

1.恒溫恒濕試驗(yàn)。它是最常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)。一般在相對(duì)濕度95%，溫度為55度的環(huán)境下存放6-24小時(shí)；或在40度以下存放10天；或在室溫至80度的環(huán)境下做多次循環(huán)試驗(yàn)，然后檢測(cè)薄膜樣品在試驗(yàn)前后的膜層的機(jī)械和光學(xué)特性的變化。例如：對(duì)于要求較高的窄帶濾光片，就要進(jìn)行恒溫恒濕試驗(yàn)，然后測(cè)試其透射率峰值的位置變化及峰值大小的變化。

2.液體浸蝕。一般是在室溫下將薄膜樣品浸泡在每升含45g鹽的溶液中，或根據(jù)用戶要求在稀釋的酸或堿溶液中浸泡6-24小時(shí)，試驗(yàn)后測(cè)試薄膜的光學(xué)特性和機(jī)械特性，并與試驗(yàn)前測(cè)的數(shù)值進(jìn)行比較。

3.溫度試驗(yàn)測(cè)試。薄膜的熱膨脹系數(shù)一般比基底的熱膨脹系數(shù)大一個(gè)數(shù)量級(jí)，加之膜層存在的內(nèi)應(yīng)力，從而在高溫度情況下，使膜層與膜層之間可能形成位錯(cuò)，因此薄膜在高溫度下使用時(shí)，必須經(jīng)過烘烤試驗(yàn)。

4.耐冷及耐輻射等特殊的環(huán)境試驗(yàn)。對(duì)于某些特殊應(yīng)用的薄膜器件，還是根據(jù)實(shí)際使用要求進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。如在太空中應(yīng)用的薄膜器件，環(huán)境溫度的變化非常大，因此在溫度試驗(yàn)中一般要求溫度的變化范圍很大：-40度-80度。此外由于宇宙中各種高能射線的輻照，也會(huì)減低光學(xué)薄膜器件的使用壽命。為了正確估算在太空中應(yīng)用的光學(xué)薄膜器件的壽命，必須對(duì)光學(xué)薄膜器件進(jìn)行輻照試驗(yàn)。